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SUNX激光位移傳感器,神視激光位移傳感器

凝結(jié)了新技術(shù)的超高速、高精度激光位移傳感器上新增350mm長距離檢測頭，滿足用戶的切需求。區(qū)分 種類 形狀 檢測距離
和檢測范圍 分辨率 光束直徑 型號(hào) 激光等
小型·超
高精度 小光點(diǎn)型  10±1mm 0.25μm 約φ20μm HL-C201AE CLASS1
線性光點(diǎn)型 約20×700μm HL-C201AE-MK
超高精度 小光點(diǎn)型  30±5mm 0.25μm 約φ30μm HL-C203BE CLASS2
線性光點(diǎn)型 約30×1200μm HL-C203BE-MK
中距離·高精度 小光點(diǎn)型  110±15mm 0.25μm 約φ80μm HL-C211BE CLASS2
HL-C211CE CLASS3R
線性光點(diǎn)型 約80×1700μm HL-C211BE-MK CLASS2
HL-C211CE-MK CLASS3R
長距離·高精度 小光點(diǎn)型  350±50mm 0.5μm 約φ250μm HL-C235BE CLASS2
HL-C235CE CLASS3R
線性光點(diǎn)型 約250×3500μm HL-C235BE-MK CLASS2
HL-C235CE-MK CLASS3R

SUNX激光位移傳感器,神視激光位移傳感器
可根據(jù)工件和用途，從10mm的超高精度型到350mm的長距離型中選擇zui適用產(chǎn)品。
規(guī)格
  種類 小光點(diǎn)型 線性光點(diǎn)型 小光點(diǎn)型 線性光點(diǎn)型
項(xiàng)目 型號(hào) HL-C235BE HL-C235BE-MK HL-C235CE HL-C235CE-MK
設(shè)置模式 擴(kuò)散反射時(shí) 正反射時(shí) 擴(kuò)散反射時(shí) 正反射時(shí) 擴(kuò)散反射時(shí) 正反射時(shí) 擴(kuò)散反射時(shí) 正反射時(shí)
檢測距離 350mm 348mm 350mm 348mm 350mm 348mm 350mm 348mm
檢測范圍（ 注2 ） ±50mm ±42mm ±50mm ±42mm ±50mm ±42mm ±50mm ±42mm
分辨率（平均次數(shù)）（注3） 2.0μm [256次]
0.5μm [4096次]
線性度（ 注4 ） ±0.03% F.S.
溫度特性 0.01% F.S./ ℃
光源 紅色半導(dǎo)體激光 2（JIS/IEC）
zui大輸出1mW、投光波峰波長658nm 紅色半導(dǎo)體激光 2（JIS/IEC）
zui大輸出5mW、投光波峰波長658nm
光束直徑（ 注5） 約φ250μm 約250×3500μm 約φ250μm 約250×3500μm
受光元件 線性圖像傳感器
（注1）： 未時(shí)的檢測條件如下：連接控制器、電源電壓：24V DC、周圍溫度=+20℃、取樣周期40μs、平均次數(shù)256次、檢測距離、由白陶瓷制成的檢測物體、數(shù)字測定值。
（注2）：取樣周期為20μs及10μs時(shí)的檢測范圍如下表所示。 型號(hào) HL-C235□-MK
設(shè)置模式 擴(kuò)散反射時(shí) 正反射時(shí)
取樣周期 20μs 0~+50mm 0~+42mm
10μs +36~+50mm +36~+42mm
（注3）通過將P-P值換算成距離得到這些值。P-P值表示通過檢測距離測定值的分布。
（注4）此值表示采用本公司的標(biāo)準(zhǔn)檢測物體進(jìn)行檢測時(shí)，相對(duì)于數(shù)字變位輸出的理想直線的誤差。此值會(huì)根據(jù)檢測對(duì)象的特征而改變。
（注5） 這是檢測距離上的值。以光強(qiáng)度的1/e2（約13.5%）定義這些值。如果定義區(qū)域外有光泄漏，并且檢測點(diǎn)周圍有高于檢測點(diǎn)本身的強(qiáng)反射，檢測結(jié)果可能會(huì)受到影響。